HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱产品简介

    该设备根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验（HAST）设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱说明

强加速稳态湿热试验通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面。此试验应力产生的失效机理通常与“85/85"稳态温湿度偏置寿命试验（见IEC60749-5）相同。试验方法可以从85℃/85%RH稳态寿命试验或本试验方法中选择。在执行两种试验方法时，85℃/85%RH稳态寿命试验的结果优先于强加速稳态湿热试验(HAST)。

本试验方法应被视为破坏性试验。

hast高压加速老化试验箱特点：

1. 控制器运算采用模糊算法，技术控制，精度高，使之达到最佳效果；7″TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏更大。

2. 控制器人机界面互动友好形式设计，操作方便，运行更可靠。

3．具有USB接口直接拷贝记录功能，包括历史曲线，历史数据等，直接拷贝到计算机查看分析及存盘。

4. 可选RS-232或RS-485通讯接口,可双向操控机器及计算机硬盘储存数据。

5. 可通过局域网或机器直接与电脑连接监控本机器运行情况，及远程操控机器。

6. 超大的程序容量：50组程序功能，每组程序可编辑50步。

7. 无结露设计、定制两套专用产品架可满足有边框和无边框光伏组件产品放置、内箱圆弧式结构可预防水珠直接滴落在产品上。

8. 饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式。

9．采用真空功能，机器运转开始时抽出杂质空气，从而使箱内环境达到纯净状态。

10. 全自动补水模式,耗水少，持续试验时间长

11. 干燥功能：试验完成时，开启干燥功能，杜绝水汽付在产品表面，还原产品试验后最真实状态。

12．符合IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118; GB/T 2423.40-1997等规范。

13. 水路配电盘分离技术，杜绝水路故障对电路系统造成影响。

14．可以根据产品状态，定制专用产品架（免费）

15. 采用国际品牌部件，运行噪声低，性能优越。

16．以60秒钟的采样计算，可保证250天的实时曲线采样和历史数据的存贮；可以由3秒钟到一小时，任意设定取样速率。

17. hast加速老化试验箱多段安全保护装置： 试验时全程检测超温超压保护，第一阶段仪表内部超高温保护，第二阶段仪表内部加湿器缺水防干烧保护，高压力保护，水箱缺水报警断电，第二阶段加湿管极限温度保护，第二阶段超高压保护，第三阶段紧急泄压保护，手动泄压保护自动泄压；漏电短路箱门关闭异常保护，故障报警故障原因及排除方法显示，报警灯及蜂鸣器报警提示